Philippe GOUDEAU

Directeur de recherche au CNRS

Je suis Directeur de Recherche (DR) au Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS). J'ai soutenu ma thèse en 1986 puis l'Habilitation à Diriger les Recherches en 1994 à l'Université de Poitiers où j'ai travaillé pendant dix ans sur les applications de la diffusion centrale anomale pour l'étude des hétérogénéités dans les matériaux métalliques et le silicium poreux.  Mes recherches actuelles sont orientées vers l'étude des effets de taille sur les propriétés élastiques de films minces nanostructurés en utilisant des outils de diffraction des rayons X spécifiques développés en Laboratoire et sur des sources de rayonnement synchrotron comme l'ALS Berkeley (USA), ESRF Grenoble (France) et SOLEIL Paris (France).

J'ai co-publié plus de 170 articles dans des revues internationales à comité de lecture, co édité les livres de la série Rayons X et Matière 2006, 2007 et 2009 (Lavoisier) et le livre de revue sur les nanosciences dans la région Nord-Ouest (International Journal of Nanotechnology) et participé à plus de 200 communications. Je suis engagé dans l'organisation bi annuelle du colloque francophone "Rayons X et Matière" (RX2006, RX2007, RX2009, RX2011 et RX2013).Je suis rapporteur des revues Applied Physics Letters, Science, Journal of Applied Crystallography, Journal of Applied Physics et membre des sociétés savantes suivantes: MRS (USA), ECA (Europe) et SF2M et SFP (France). J'ai co-dirigé 10 thèses et été membre de plus d’une cinquantaine de Jurys de thèse et d’habilitation à diriger les recherches. J'ai présidé de septembre 2008 à juillet 2012 la section 05 "Matière condensée: organisation et dynamique" du comité national de la recherche scientifique français (CoNRS) et participé à plusieurs comité d'évaluation AERES de laboratoires. Durant 4 ans (2010-2013), j'ai assuré la direction adjointe de l'institut Pprime (540 personnes) dès sa création pendant deux ans puis la direction du département de Physique et Mécanique des Matériaux (150 personnes).

Thématiques

• Effets de taille et de microstructure sur les propriétés mécaniques de films minces nanostructurés - mesure des déformations par DRX et CIN

• Cartographie des contraintes par microdiffraction X sur des sources synchrotrons

Mots clés

• Films minces nanostructurés, propriétés mécaniques, diffraction X sur synchrotron, déformation in situ.

Sélection de  publications (sur les dix dernières années)

* FAURIE D., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., “Determination of elastic constants of a fibre-texture gold film by combining synchrotron X-ray diffraction and in-situ tensile testing”, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 98 (093511) (2005) 1-9.

* FAURIE D., RENAULT P.O., LE BOURHIS E., GOUDEAU PH., CASTELNAU O., BRENNER R., “Elastic behavior of polycrystalline thin films inferred from in situ micromechanical testing and modeling”, APPLIED PHYSICS LETTERS 89 (061911) (2006) 1-3.

* AL KHOURY W., EYMERY J.-P., GOUDEAU P., “Phase transformation of the A15 metastable phase of Fe-Cr thin films prepared by ion-beam sputtering”, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 102 (043511) (2007) 1-10.

* GEANDIER G., RENAULT P.-O., TEAT S., LE BOURHIS E, LAMONGIE B., GOUDEAU PH., "Benefits of two-dimensional detectors for synchrotron X-ray diffraction studies of thin film mechanical behavior", JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 41 (6) (2008) 1076 – 1088.

* FAURIE D., CASTELNAU O., BRENNER R., RENAULT P.-O, LE BOURHIS E, GOUDEAU PH., "In situ diffraction strain analysis of elastically deformed polycrystalline thin films, and micromechanical interpretation", JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 42 (2009) 1073-1084.

* GEANDIER G.,  RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU Ph., FAURIE D., LE BOURLOT C., DJEMIA Ph., CASTELNAU O., CHERIF S. M., “Elastic-strain distribution in metallic film-polymer substrate composites”, APPLIED PHYSICS LETTERS 96, 041905 (2010) - Virtual Journal of Nanoscale Science & Technology 21 (6) (2010)

* GIRAULT B., EYIDI D., CHAUVEAU T., BABONNEAU D., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., “Copper coverage effect on tungsten crystallites texture development in W/Cu nano-composite thin films”, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 109, 014305 (2011) 12 pages

* RICHARD A., PALANCHER H., CASTELIER E., MICHA J.-S., GAMALERI M., CARLOT G., ROUQUETTE H., GOUDEAU P., MARTIN G., RIEUTORD F., PIRON J. P., GARCIA P., “Strains in light-ion-implanted polycrystals: influence of grain orientation”, JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY (2012). 45, 826–833.

* PHAM T., FAURIE D., DJEMIA P., BELLIARD L., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., PAUMIER F.,  “Phase transition signature on elastic constants in al1-xcrxny ternary alloys thin films”, APPLIED PHYSICS LETTERS 103, 041601 (2013).

* JIA H.K., WANG S.B.,  LI L.A., WANG Z.Y., GOUDEAU P., « Application of optical 3D measurement on thin film buckling to estimate interfacial toughness”, OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING 54 (2014) 263–268.