Accueil |
-------------- |
Contact |
-------------- |
Plan du site |
-------------- |
Profil de recherche
Caractérisation de la microstructure, de la morphologie et de l'état mécanique de nanostructures par diffusion centrale et diffraction des rayons X
Mon activité de recherche en physique des matériaux s’appuie sur un développement instrumental conséquent – diffusion / diffraction des rayons X - avec une forte implication dans les sources synchrotrons (LURE principalement mais aussi plus récemment l’ESRF et l’ALS Berkeley - USA). Depuis mon entrée au CNRS, ma recherche a évolué au niveau des thématiques abordées en passant de la diffusion centrale pour l’étude des hétérogénéités de matériaux métallurgiques (diffusion anomale) et du silicium poreux luminescent à la diffraction pour l’étude des propriétés mécaniques des films minces.
En respectant un ordre quasi chronologique, on fait ressortir les 3 thèmes suivants:
1 . Matériaux présentant des hétérogénéités à moyenne échelle
Diffusion centrale des rayons X
1986-1990 Diffusion centrale anomale des RX (Amorphes hydrogénés,CuNiSn)
1988-1994 Structure du silicium poreux
Ce thème comporte deux volets. Le premier résulte du prolongement direct de ma thèse dont le sujet concernait la mise au point d'une nouvelle technique d'investigation des structures à moyenne échelle nommée "diffusion centrale anomale des rayons X", et de ses applications dans le cas de problèmes classiques en métallurgie (démixtion de solutions solides). Le deuxième volet concerne le silicium poreux, sujet sur lequel j'ai travaillé en étroite collaboration avec le CNET de Grenoble et au sein du GDR LUSIL dont l'activité portait principalement sur la propriété de luminescence.
2 . Microstructure et structure de films minces
Diffraction des RX en incidence faible
1988-1994 Revêtements pour l'amélioration des propriétés d'usage des matériaux: carbure de tungstène, alliages à base de Nickel, MoSx.
Mélange par faisceau d'ions dans des systèmes immiscibles
Solutions métastables CuMo formées par coévaporation.
Ce second thème correspond à une période "charnière" puisqu'elle marque le passage de l'après thèse, soit des étudies par diffusion centrale à mes nouvelles activités liées à l'aspect mécanique des films minces. Les travaux mentionnés constituent pour la plus plupart des parties de thèses et reflètent assez bien les interactions existantes au sein du laboratoire entre les différentes équipes de recherche. Les différents sujets abordés traitent de l'analyse de la microstructure de films minces présentant de très bonnes propriétés mécaniques par diffraction des rayons X en incidence rasante.
3 . Propriétés mécaniques intrinseques de films minces et multicouches
Diffraction des RX – Déformation in situ – micro faisceau RX
1992-présent Contraintes résiduelles, constantes d’élasticité
Décollements spontanés, cartographie des contraintes
Enfin, ce dernier thème concerne les travaux de recherches menées depuis 17 ans sur les propriétés microstructurales et mécaniques (contraintes, microdéformations, décollements spontanés, constantes d’élasticité) de films minces. Certaines études entreprisent dans ce thème ont été initiées au sein du GDR "Interfaces et Multimatériaux" (I2M)