1]                 "Grazing Small-Angle Scattering of X-rays for the Study of Thin Surface Layers", A. NAUDON, T. SLIMANI AND P. GOUDEAU, Eighth International Conference on Small-Angle Scattering, Leuven (Belgium), August 6-9, 1990

2]                 "Contraintes résiduelles dans les multicouches Cu/W", K.F. BADAWI, P. GOUDEAU ET A. NAUDON, Colloque "Contraintes résiduelles", Arcueil (France), 22-23 Septembre 1992.

3]                 "Anomalous small angle X-ray scattering", PH. GOUDEAU, 8th Europhysics school on chemical Physics Series on Structural and Electronic Methods in Material Science using Synchrotron Radiation, Huelva (Spain), October 13-23, 1992

4]                 "Scattering of X-rays", A. NAUDON, P. GOUDEAU AND V. VEZIN, International Scholl "Luminescence of porous silicon and silicon nanostructures", Les Houches (France), February 7th-12th, 1994

5]                 « Applications de la technique de diffraction X à l’étude des films minces », GOUDEAU P., Séminaire à la Faculté des Sciences Ben M’Sik, Casablanca- Maroc, 15 Mars 1995

6]                 « Etude de l’état mécanique de films minces par diffraction des rayons X », GOUDEAU P., Réunion « Adhérence des dépôts » du Club CRIN PISE, atelier « Interaction plasma, ions/métaux, céramiques et verres », Paris 14 juin 1996

7]                  « Développements actuels au LMP dans le domaine des propriétés mécaniques des films minces », GOUDEAU P., Séminaire à la Faculté des Sciences Ben M’Sik, Casablanca, Maroc, 6 novembre 1997.

8]                 «  Alliages et propriétés mécaniques », GOUDEAU P., Workshop « Expériences et lignes de lumière sur SOLEIL : les besoins en science des matériaux », LURE - Orsay, 24-25 novembre 1997.

9]                 «  Mesure du coefficient de Poisson dans les couches minces par diffraction X », RENAULT P.O., BADAWI K.F., BIMBAULT L., GOUDEAU P., 2^ème Journée d’Etude de la SF2M Ouest, ENSAM Angers, 28 mai 1998.

10]             « Intrinsic mechanical properties of thin films elaborated by PVD », GOUDEAU P., Séminaire à l’Université du Minho, Braga, Portugal, 7 juillet 1998

11]             « Contraintes, élasticité et rugosité dans des multicouches métalliques élaborées par PVD », GOUDEAU P., Colloque du groupe Joints Intergranulaires et Interphases dans les Matériaux (J2IM), Aspet, 7-9 octobre 1998.

12]             « Propriétés mécaniques intrinsèques des films minces polycristallins », GOUDEAU P., Séminaire à l’école des Mines de Nancy, 17 décembre 1998.

13]             « Propriétés mécaniques intrinsèques des films minces polycristallins », GOUDEAU P., Séminaire au CEA-CEREM, SRMA, Saclay 22 janvier 1999.

14]             « Détermination des propriétés mécaniques des couches minces par diffraction des rayons X, mesure de flèche et nanoindentation », GOUDEAU P., Journée Interphases du groupe MECAMAT, LMM, Paris VI, 18 février 1999.

15]             « X-ray diffraction analysis of (Ti,Si)N coatings : phases, texture in grain micro and macro stresses, coherently diffracting domain size », GOUDEAU P., Séminaire à l’Université du Minho, Braga, Portugal, 17 novembre 1999

16]             « Diffraction en micro faisceaux X sur les sources synchrotrons de 3^ème génération : de nouvelles perspectives en Sciences des Matériaux pour l’analyse locale à l’échelle du micron», GOUDEAU P., Séminaire à l’Institut des Sciences de la Terre, Orléans, 6 Avril 2001.

17]             « Elastic properties of supported polycrystalline thin films : an x-ray diffraction: study», GOUDEAU P., Séminaire à l’Université de Berkeley, San Francisco – USA, 28 Juin 2001.

18]             « Elastic properties of supported polycrystalline thin films: an X-ray diffraction Study”, GOUDEAU P., Séminaire invité au  center of advanced european studies and research - CAESAR, Bonn, Allemagne, 8 Mai 2002.

19]             “Residual stress and elasticity constants analysis by x-ray diffraction in thin films”, BADAWI F., VILLAIN P., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., Advances in Thin Film Characterization by x-ray, Geneva, Italy, 11-13 September 2002

20]             “Macro stress mapping on thin film buckling”, GOUDEAU P., VILLAIN P., TAMURA N., PADMORE A.H., ALS User’s Meeting, Workshop “Application of microdiffraction to materials and environmental science”, Berkeley, 10-12 Octobre 2002.

21]             “Elastic properties of supported polycrystalline thin films and multilayers : an X-ray diffraction study”, GOUDEAU P., VILLAIN P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., THERMEC’2003, Symposium “Thermomechanical properties of thin films”, Madrid, 7-11 Juillet 2003.

22]             « Analyse de la structure et des champs de déformations/contraintes dans les matériaux par m-SXRD : état de l'art et perspectives », GOUDEAU P., TAMURA N., Petit séminaire sur la microdiffraction des rayons X, Labo. de Cristallographie, Grenoble, 13 Janvier 2004.

23]             « Déformations/Contraintes et Rayonnement Synchrotron: état de l’art et perspectives », GOUDEAU P., Colloque GFAC 2004, Aix en Provence, 22-23 Avril 2004.

24]             « Déformation de micro et nanostructures : Etudes par microdiffraction », GOUDEAU P., TAMURA N., PADMORE H. A., Colloque Microdiffraction, Orsay, 28-29 Juin 2004.

25]             “Synchrotron micro XRD: a new tool for studying mechanical properties in polycrystalline materials at a micrometer scale”, GOUDEAU P., N. TAMURA, H. A. PADMORE, Primeiras Jordanas do Centro de Fisica, Universidade do Minho (Portugal), 14 Octobre 2005.

26]             “Mechanical properties of thin films and nanometric multilayers using tensile testing and synchrotron X-ray diffraction”, LE BOURHIS E., FAURIE D., GIRAULT B., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., VILLAIN P., BADAWI F., Tenth International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2006), Garmisch-Partenkirchen (Allemagne), 10-15 Septembre 2006.

27]             “Residual stress determination by X-ray diffraction techniques”, GOUDEAU P., IV simposio de Ingenieria de Superficie, 1er simposio Programa Cooperacion de Postgrado Francia-Venezuela, Puerto Ordas (Vénézuela), 9-10 Novembre 2006

28]             “Role of the nanostructure of hard TiN-based coatings on the improvement of their durability”, STEYER PH., MEGE A., FONTAINE J., PIERSON J-F., MENDIBIDE C., ESNOUF C., GOUDEAU P., MILLET J-P., E-MRS 2007 Spring Meeting, Strasbourg, France, May 28 - June 1, 2007.

29]             « Strain mapping by non destructive methods : Laue micro diffraction », GEANDIER G., MALARD B., GOUDEAU P., TAMURA N., ESRF User’s meeting, Grenoble, February 5-7, 2008.

30]             “Micromechanical Modelling of the Size-Dependent Elastic Behavior of Multilayer Thin Films: Comparison with in situ data from X-Ray Diffraction”, GEANDIER G., CASTELNAU O., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., IUTAM Symposium on Modelling Nanomaterials and Nanosystems, Aalborg (Denmark), May 19 - 22, 2008.

31]             “Mechanical properties of nanostructured thin films studied by x-ray diffraction and simulation experiments”, GOUDEAU P., GIRAULT B., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., ALLARD F., VALAT P., CASTELNAU O., THIAUDIÈRE D., TAMURA N., International Conference on Experimental Mechanics (ICEM2008), Nanjing (Chine), November 8-11, 2008.

32]             « Présentation du comité national de la recherche scientifique », GOUDEAU P., Journée d’accueil des nouveaux nommés MdC en physique (SFP), INSP, 3 Avril 2009

33]             « Mesures de contraintes sur des couches minces par des méthodes de diffraction de rayons X. », GOUDEAU P., Institut Jean Lamour, Nancy, 15 Mai 2009.

34]             "Structural and size effects on the mechanical behavior of nanometric W/Cu multilayers”, GIRAULT B., GEANDIER G., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., RENAULT P.- O., VALAT-VILLAIN P., ALLARD F., DURINCK J., 2nd IRUN Symposium on Nanotechnology, Krakow, Pologne, 8-9 Octobre 2009.

35]             “Micro diffraction contribution for improving nuclear materials performance”, GOUDEAU.P., 2009 ALS user’s meeting workshop “Future Directions for Spatially Resolved X-Ray Diffraction and Spectroscopy Toward Energy Research”, Berkeley, USA, 15-17 Octobre 2009.

36]             “Scanning X-ray microdiffraction: a powerful tool for investigating stresses and defects at a submicron scale.”, GOUDEAU.P, YESS nano 2009, Atelier France-USA sur les Nanosciences et Nanotechnologies, Synchrotron SOLEIL, France, 16-18 Novembre 2009.

37]             “Internal stresses determination by x-ray diffraction: macro and microscopic aspects”, GOUDEAU.P, XRD Training, University of Minho, Portugal, 23-26/11/2009.

38]             “Residual stresses in thin films and coatings : origin and measurements” (Plenary lecture) 14th International Conference on Experimental Mechanics GOUDEAU P., ICEM14, Futuroscope, France, 4-9 July 2010

39]             “Structural and mechanical properties of AlCrN thin films deposited by ion beam sputtering (IBS)” PHAM T., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., GUERIN P.  2010 Autumn Symposium of Korean Institute of Surface Engineering, The 1st Korea-Japan Symposium on Surface Technology, Incheon, Korea, November 24 – 27, 2010.

40]             “Influence of stress state and microstructure on yield stress of nanometric W/Cu multilayers” GIRAULT B., EYIDI D., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., GOUDEAU P. PLASTICITY 2011, Puerto Vallarta, Mexique, January 3-8, 2011

41]             “X-ray mechanical properties of thin films supported by polyimide substrates studied with a biaxial tensile tester” RENAULT P.O., DJAZIRI S., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., GEANDIER G., THIAUDIÈRE D., FAURIE D., CHIRON R., CASTELNAU O. ICM11, lac de Come, Italie, 5-9 Juin 2011

42]             « Evaluation de la recherche : AERES – CoNRS – CNU » Goudeau P.Journées des Entrants dans les laboratoires de l’institut de PHYsique - JEPHY 2011, La Rochelle, 22-25 Mai 2011

43]         « Investigation of the mechanical properties of nanostructured composite thin film - polymeric substrate under controlled biaxial deformation”, Renault P.O., Djaziri S., Le Bourhis E., Thiaudiere D., Faurie D., Goudeau P., Hild F., Mocuta C., ECCM 15 (European Conference on Composite Materials), Venise, Italie, 24-28/06/2012

44]         “µ-XRD study of strains in light ion implanted polycrystals: influence of grain orientation”,  PALANCHER H., RICHARD A., MICHA J-S., CASTELIER É.,  GOUDEAU PH., 13emes Journées de la Matière Condensée – JMC13 Montpellier, 27-31/08/2012.

45]         « Relationship between nitrogen content and mechanical properties in Al1-xCrxNy thin films”, T.T.H. PHAM, F. PAUMIER, LE BOURHIS E., GOUDEAU P., ISEPD 2013 (the 14th International Symposium on Eco-materials Processing and Design), Kagoshima, Japan, January 15-18, 2013.

46]         “Synchrotron XRD study of the elastic-plastic response of W-Cu supported thin films”, GOUDEAU P., LE BOURHIS E., DJAZIRI S., RENAULT P.-O., HILD F., THIAUDIÈRE D., FAURIE D., Plasticity2013, Nassau, Bahamas, 3-8 Janvier 2013.

47]         “Time-resolved Synchrotron x-ray strain analysis in biaxially deformed thin films on compliant substrate”, FAURIE D., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GEANDIER G., DJAZIRI S., GOUDEAU P., THIAUDIÈRE D., E-MRS 2013 FALL MEETING, Warsaw University of Technology, Poland, September 16-20, 2013.

48]         “Mechanical properties of supported metallic thin films (on flexible substrates)”, DJAZIRI S., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., GOUDEAU P., HILD F., THIAUDIÈRE D., MOCUTTA C., FAURIE D., GEANDIER G., Indo-French School on Materials for the Future,  Futuroscope, France, April 15-19, 2013.

49]         « A synchrotron tensile device to mimic flexible electronics”, LE BOURHIS E., RENAULT P.O., GOUDEAU P., FAURIE D., GEANDIER G., THIAUDIÈRE D., Mechanical Issues for Flexible Electronics “Flex Workshop” ,Leoben, Austria, April 10-11, 2014.

50]         « In situ biaxial mechanical testing of metallic thin films on stretchable substrate: synchrotron diffraction versus image correlation analyses”, RENAULT P.O., LE BOURHIS E., GUILLOU R., GOUDEAU P., FAURIE D., GEANDIER G., MOCUTA C., THIAUDIERE D., International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films – ICMCTF2014, San Diego, CA, USA, April 28 through May 2, 2014.

51]          “Use of Raman Spectroscopy and Synchrotron micro-Diffraction to investigate stress in thermal oxide films : a multiscale approach”, GROSSEAU-POUSSARD J.L., GUERAIN M., GOUDEAU P., GEANDIER G., PANICAUD B., TAMURA N., KUNZ M., DEJOIE C., MICHA J.S., CIMTEC, 13th international ceramics congress, Montecatini terme, Italy, 8-13 juin 2014.

52]         « Relations contraintes résiduelles – endommagements dans des systèmes oxydes thermiques sur métal : apports de la spectroscopie Raman et de la diffraction des RX », Guerain M., Grosseau-Poussard J.L., Goudeau P., Panicaud B., Geandier G., Tamura N., Kunz M., Dejoie C., Micha J.-S., Atelier Mines ParisTech « Nouvelles microstructures de systèmes revêtus céramique/métal, comportements mécaniques et endommagement des couches et interfaces », Centre des Matériaux – Évry 16/09/2016.

53]         “Strain engineering in ITO thin films deposited on polymer: a synchrotron study”, Grossias C., El Houda Djezza N., Pouvreau N., Le Bourhis E., Thiaudière D., Renault P.-O., Hurand S., Paumier F., Goudeau P., The 7th Global Conference on Materials Science and Engineering (CMSE2018), November 1st-4th, 2018, Xi'an, Shaanxi, China.

54]         “Fast characterization and analysis at DiffAbs beamline, Synchrotron SOLEIL”, Mocuta C., Geenen F., Detavernier C., Solano E., Gallard M., Tholapi R., Amara M.S., Guichet C., Putero M., Escoubas S., Burle N., Richard M.-I., Thomas O., Noé P., Sabbione C., Chahine R., Bernard M., Fellouh L., Brenac A., Morel R., Renault P.-O., Goudeau P., Reguer S., Thiaudiere D., Seventh Conference on Recrystallization and Grain Growth – ReX&GG, 4-9th August, 2019, Ghent, Belgium.

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