Communications à des congrès et symposiums

Auteur de communications lors de congrès et symposiums

Communications orales

1] "Residual stress and microstructure of Cu/W multilayers", PH. GOUDEAU, K. F. BADAWI, A. NAUDON AND N. DURAND, MRS spring meeting, Marriott, San Francisco (USA), April 12-16, 1993

2] "SAXS study of the influence of the porous silicon morphology on the photoluminescence efficiency", PH. GOUDEAU, A. NAUDON, A. HALIMAOUI AND G. BOMCHIL, E-MRS Spring Meeting, Council of Europe, Strasbourg (France), May 4-7 1993

3] "Correlation between the porous silicon morphology and the photoluminescence efficiency", PH. GOUDEAU, A. NAUDON, V. VEZIN, A. HALIMAOUI, G. BOMCHIL AND B. LAMBERT, International Workshop on Light Emitting Low Dimensional Silicon Structures, Lagonissi, Attiki, Greece, 10-12 October 1994.

4] « Profile analysis of thin film X-ray diffraction peak », BIMBAULT L., BADAWI K.F., GOUDEAU P., BRANGER V., DURAND N., E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, Concil of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

5] « Study of the mechanical and microstructural state of platinium thin films », BRANGER V., PELOSIN V., BADAWI K.F., GOUDEAU P., E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, C oncil of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

6] « Residual stresses influence on the structural evolution of Cu-Mo solid solutions studied by X-ray diffraction », GOUDEAU P., MIMAULT J., GIRARDEAU T., REKLAOUI K., PROUX O., BRANGER V., E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, Concil of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

7] « Nouvel appareillage de diffraction X pour l’analyse de l’état mécanique (contraintes et microdéformations) de films minces nanocristallins », GOUDEAU P., BADAWI K.F., NAUDON A., JAULIN M., DURAND N., BIMBAULT L., BRANGER V., Colloque « Rayons X et Matière » (RX95), Strasbourg 6-10 novembre 1995.

8] « X-ray diffraction study of the mechanical and microstructural state of metallic thin films », BRANGER V., GOUDEAU P., BADAWI K.F., BIMBAULT L., DURAND N., Fourth European Conference on Residual Stresses (ECRS4), Cluny en Bourgogne, 4-6 juin 1996.

9] « Etude par diffraction des rayons X de l’état mécanique de couches minces et multicouches métalliques : influence des contraintes sur la croissance et la stabilité des structures ; relaxation par irradiation aux ions », GOUDEAU P., Réunion du Groupement Français d’Analyse des Contraintes au CEMES, Toulouse, 28-29 novembre 1996

10] « Effet de l’assistance ionique sur les contraintes résiduelles dans les films minces d’acier inoxydable », GOUDEAU P., SERRARI A., BOUBEKER B., EYMERY J.P., Colloque National sur les contraintes résiduelles dans les procédés d’élaboration des céramiques et les traitements de surface, Limoges, 23-24 Septembre 1997

11] « Etude par diffraction X des contraintes résiduelles et de l’élasticité de films minces », GOUDEAU P., RENAULT P.-O., VILLAIN P., BADAWI F., Congrès de la SFC colloque « Couches minces » , Rennes, 19 septembre 2000.

12] “ Residual stress mapping by micro x-ray diffraction: application to the study of thin film buckling ”, GOUDEAU P., VILLAIN P., TAMURA N., Colloque RX2001, ENSAIS, Strasbourg, 4-7 Décembre 2001.

13] “ Détermination du module d’Young dans des films minces de tungstène par diffraction des rayons X ”, VILLAIN P., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., Colloque RX2001, ENSAIS, Strasbourg, 4-7 Décembre 2001.

14] “In situ deformation study of metallic thin films and multilayers by x-ray diffraction”, GOUDEAU P., VILLAIN P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., 2002 TMS Annual Meeting, Seattle, USA, 17 –21 février 2002.

15] “Macro stress mapping on thin film buckling”, GOUDEAU P., VILLAIN P., TAMURA N., 2002 TMS Annual Meeting, Seattle, USA, 17 –21 février 2002.

16] « Etude des propriétés locales de films minces et revêtements par diffraction X en micro faisceaux », GOUDEAU P., VILLAIN P., TAMURA N., Colloque GFAC, Troyes, 7-8 mars 2002.

17] “Macro stress mapping on thin film buckling”, GOUDEAU P., VILLAIN P., RENAULT P.-O., TAMURA N., CELESTRE R.S., PADMORE H., 6th European Conference on Residual Stresses ECRS6, Coïmbra, Portugal, 10-13 Juillet 2002.

18] “Elastic constant measurement in supported W/Cu multiplayer thin films by x-ray diffraction”, VILLAIN P., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., 6th European Conference on Residual Stresses ECRS6, Coïmbra, Portugal, 10-13 Juillet 2002

19] « Cartographie à l’échelle du micron des contraintes intra granulaires et des orientations cristallines sur une micro poutre en silicium revêtue d’or par diffraction des rayons X », GOUDEAU P., RIGO S., MASRI T., PETIT J.A., DESMARRES J.-M., TAMURA N., Colloque GFAC, ENSAM de Metz, 9-10 avril 2003.

20] « Caractérisation des propriétés mécaniques intrinsèques de couches minces de carbone amorphe: évolution in situ en température des contraintes et effets de l’implantation d’azote sur la dureté et le module », CHARVET S., LEJEUNE M., GOUDEAU P., FAURIE D., LE BOURHIS E., GERGAUD P., Réunion Thématique du Gdr « Couches minces de carbone amorphe et nanostructuré », 18-19 Mars 2004, St Etienne et Lyon.

21] “Application of the white/monochromatic X-ray μ-diffraction technique to the study of texture and triaxial strain at the submicron level”, GOUDEAU P., TAMURA N., SPOLENAK R., PADMORE H.A., ICRS7, Xi’an (Chine), 14-17 Juin 2004.

22] “X-ray diffraction analysis of the residual stress state in PVD TiN/CrN multilayer coatings deposited on tool steel, and its correlation with wear resistance”, MENDIBIDE C., STEYER P., ESNOUF C., GOUDEAU P., THIAUDIÈRE D., GAILHANOU M., FONTAINE J., 9th Conference on Plasma Surface Engineering (PSE), Garmisch (Allemagne), 13-17 Septembre 2004

23] « Micro scanning X-ray diffraction study of Roman Terra Sigillata ceramics », SCIAU P., GOUDEAU P., TAMURA N., DOORYHEE E., Synchrotron Radiation in Arts and Archaeology – SR2A, Grenoble (France), 9-11 Février 2005.

24] “Strain mapping on gold thin film buckling and silicon blistering”, GOUDEAU P., TAMURA N., PARRY G., COLIN J., COUPEAU C., CLEYMAND F., PADMORE H., MRS spring meeting, symposium O “Thin Films―Stresses and Mechanical Properties XI”, San Francisco (USA), 28 Mars – 1er Avril 2005.

25] “Mechanical properties and size effect in nanometric W/Cu multilayers”, VILLAIN P., FAURIE D., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., BADAWI K.-F., MRS spring meeting, symposium O “Thin Films―Stresses and Mechanical Properties XI”, San Francisco (USA), 28 Mars – 1er Avril 2005.

26] « Micro - diffraction Laue: un nouveau projet de ligne à SOLEIL pour l’identification de phases et la mécanique des matériaux », GOUDEAU P., THOMAS O., Colloque GFAC 2007, Senlis, 27-28 mars 2007.

27] “Elastic properties of metallic thin films : 2D synchrotron XRD analysis and in situ tensile testing”, GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., GIRAULT B., Denver X-ray conference, Denver, USA, 20/07-3/08 2007.

28] “Elastic properties of nano-structured thin films: Characterization and modeling”, GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., VILLAIN P., GIRAULT B., CASTELNAU O., CHIRON R., RANDRIAMAZAORO R., THIAUDIÈRE D., Denver X-ray conference, Denver, USA, 20/07-3/08 2007.

29] “Micro scanning XRF, XANES and XRD studies of the decorated surface of Roman Terra Sigillata ceramics”, MIRGUET C., SCIAU P., GOUDEAU P., METHA A., PIANETTA P., LIU Z., TAMURA N., Denver X-ray conference, Denver, USA, 20/07-3/08 2007.

30] “Micro scanning XRF, XANES and XRD studies of the decorated surface of Roman Terra Sigillata ceramics”, MIRGUET C., SCIAU P., GOUDEAU P., METHA A., PIANETTA P., LIU Z., TAMURA N., ECM24, Marrakech, Maroc, 22-27 Août 2007.

31] « Etudes des engobes de céramiques romaines en combinant des techniques de micro-diffraction, micro-fluorescence et micro-absorption X », SCIAU P., LEON Y, GOUDEAU P., METHA A., LIU Z., TAMURA N., Réunion de clôture du GDR « Patrimoine et Soleil », Paris, 29-30 Janvier 2008.

32] “Development of a biaxial tensile machine at synchrotron standard for in-situ diffraction characterization of thin polycrystalline metallic film mechanical response”,GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., LAMONGIE B., DIOT Y., CASTELNAU O., CHIRON R., RANDRIAMAZAORO R., FAURIE D., THIAUDIERE D., ALVES F., BOUAFFAD A., COQUET J., Atelier du GdR MECANO, Ecole des Mines de Paris, 23-24 avril 2009.

33] « Effets de structure et de taille sur le comportement mécanique de multicouches W/Cu de périodes nanométriques », GIRAULT B., GEANDIER G., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., RENAULT P.- O., VALAT-VILLAIN P., ALLARD F., DURINCK J., SFP2009 session «Matériau et effet de taille : une convergence de la physique et de l’ingénierie » , Ecole Polytechnique, Palaiseau, 6-10/07/2009

34] « Effet de structure et de taille sur les propriétés mécaniques de multicouches métalliques nanométriques », GIRAULT B., GEANDIER G., RENAULT P.-O., EYIDI D., LE BOURHIS E., ALLARD F., VALAT P., GOUDEAU P., CFM’09, S32: Mécanique Physique Nano-objets & Petites Echelles, Marseille, 24-28/08/2009.

35] “X-ray diffraction characterization of suspended structures for MEMS applications”, GOUDEAU P., GEANDIER G., TAMURA N., CFM’09, S28 : Micro et nano systèmes, MEMS, Marseille, 24-28/08/2009.

36] "Mechanical reliability of ZnO thin films used in glass stacking applications CIMTEC » CONCHON F., RENAULT P.O., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., SONDERGARD E., BARTHEL E., GRACHEV S., GOUARDES E., RONDEAU V., GY R., LAZZARI R., JUPILLE J., BRUN N. CIMTEC symposium CG, Montecatini terme, Tuscany, Italy – June 6-11, 2010

37] “In situ mechanical testing of TiO2 anatase thin films using synchrotron x-ray diffraction”, Goudeau P., Gelfi M., Bontempi E., Geandier G., Thiaudière D., Depero L.E., MRS Fall meeting, Boston, USA 26-30/11/0212.

38] “Combined analysis of delamination process at the surface of Cr2O3 thermal oxide films”, GOUDEAU P., GUERAIN M., GROSSEAU-POUSSARD J.L., TAMURA N., KUNZ M., MICHA J.S., MRS Fall meeting, Boston, USA, 26-30/11/0212.

39] “Elastic strains in He implanted UO2 polycrystalline sample: micro X-ray Laue diffraction measurements and anisotropic elastic modeling”, GOUDEAU PH., CASTELIER É., PALANCHER H., RICHARD A., MICHA J-S., MRS Fall meeting, Boston, USA 26-30/11/0212.

40] « Film brittleness revealed at small deformations by biaxial loading at different ratios”, GOUDEAU P., LE BOURHIS E., RENAULT P.O., GUILLOU R., DJAZIRI S., FAURIE D., GEANDIER G., THIAUDIÈRE D., 16th International Conference on Experimental Mechanics - ICEM16, July 7-11 2014 • University of Cambridge, UK.

41] “Stress analysis at different length scales in thermal oxide films combining Raman spectroscopy and x-ray diffraction”, GUERAIN M., GROSSEAU-POUSSARD J.-L., GOUDEAU P., GEANDIER G., PANICAUD B., TAMURA N., KUNZ M., DEJOIE C., MICHA J.-S., The 43rd International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films – ICMCTF, April 25-29 2016, San Diego, USA.

Communications par affiche

1] "Diffusion Centrale Anomale des rayons X. Application à des alliages métallurgiques" Ph. Goudeau et A. Naudon "Physique en Herbe", Aussois (France) 1985

2] "Grazing-Incidence X-ray Scattering Study of the Microstructure of Tungsten-Carbon Films" T. Slimani, Ph. Goudeau, A. Naudon, G. Farges and J. L. Derep Eighth International Conference on Small-Angle Scattering, Leuven (Belgium), August 6-9, 1990