Auteur de communications lors de congrès et symposiums

Communications orales

1]                 "Residual stress and microstructure of Cu/W multilayers", PH. GOUDEAU, K. F. BADAWI, A. NAUDON AND N. DURAND, MRS spring meeting, Marriott, San Francisco (USA), April 12-16, 1993

2]                 "SAXS study of the influence of the porous silicon morphology on the photoluminescence efficiency", PH. GOUDEAU, A. NAUDON, A. HALIMAOUI AND G. BOMCHIL, E-MRS Spring Meeting, Council of Europe, Strasbourg (France), May 4-7 1993

3]                 "Correlation between the porous silicon morphology and the photoluminescence efficiency", PH. GOUDEAU, A. NAUDON, V. VEZIN, A. HALIMAOUI, G. BOMCHIL AND B. LAMBERT, International Workshop on Light Emitting Low Dimensional Silicon Structures, Lagonissi, Attiki, Greece, 10-12 October 1994.

4]                 « Profile analysis of thin film X-ray diffraction peak », BIMBAULT L., BADAWI K.F., GOUDEAU P., BRANGER V., DURAND N., E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, Concil of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

5]                 « Study of the mechanical and microstructural state of platinium thin films », BRANGER V., PELOSIN V., BADAWI K.F., GOUDEAU P., E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, C oncil of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

6]                 « Residual stresses influence on the structural evolution of Cu-Mo solid solutions studied by X-ray diffraction », GOUDEAU P., MIMAULT J., GIRARDEAU T., REKLAOUI K., PROUX O., BRANGER V., E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, Concil of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

7]                 « Nouvel appareillage de diffraction X pour l’analyse de l’état mécanique (contraintes et microdéformations) de films minces nanocristallins », GOUDEAU P., BADAWI K.F., NAUDON A., JAULIN M., DURAND N., BIMBAULT L., BRANGER V., Colloque « Rayons X et Matière » (RX95), Strasbourg 6-10 novembre 1995.

8]                 « X-ray diffraction study of the mechanical and microstructural state of metallic thin films », BRANGER V., GOUDEAU P., BADAWI K.F., BIMBAULT L., DURAND N., Fourth European Conference on Residual Stresses (ECRS4), Cluny en Bourgogne, 4-6 juin 1996.

9]                 « Etude par diffraction des rayons X de l’état mécanique de couches minces et multicouches métalliques : influence des contraintes sur la croissance et la stabilité des structures ; relaxation par irradiation aux ions », GOUDEAU P., Réunion du Groupement Français d’Analyse des Contraintes au CEMES, Toulouse, 28-29 novembre 1996

10]               « Effet de l’assistance ionique sur les contraintes résiduelles dans les films minces d’acier inoxydable », GOUDEAU P., SERRARI A., BOUBEKER B., EYMERY J.P., Colloque National sur les contraintes résiduelles dans les procédés d’élaboration des céramiques et les traitements de surface, Limoges, 23-24 Septembre 1997

11]               « Etude par diffraction X des contraintes résiduelles et de l’élasticité de films minces », GOUDEAU P., RENAULT P.-O., VILLAIN P., BADAWI F., Congrès de la SFC colloque « Couches minces » , Rennes, 19 septembre 2000.

12]               “ Residual stress mapping by micro x-ray diffraction: application to the study of thin film buckling ”, GOUDEAU P., VILLAIN P., TAMURA N., Colloque RX2001, ENSAIS, Strasbourg, 4-7 Décembre 2001.

13]               “ Détermination du module d’Young dans des films minces de tungstène par diffraction des rayons X ”, VILLAIN P., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., Colloque RX2001, ENSAIS, Strasbourg, 4-7 Décembre 2001.

14]               “In situ deformation study of metallic thin films and multilayers by x-ray diffraction”, GOUDEAU P., VILLAIN P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., 2002 TMS Annual Meeting, Seattle, USA,  17 –21 février 2002.

15]               “Macro stress mapping on thin film buckling”, GOUDEAU P., VILLAIN P., TAMURA N., 2002 TMS Annual Meeting, Seattle, USA,  17 –21 février 2002.

16]               « Etude des propriétés locales de films minces et revêtements par diffraction X en micro faisceaux », GOUDEAU P., VILLAIN P., TAMURA N., Colloque GFAC, Troyes, 7-8 mars 2002.

17]               “Macro stress mapping on thin film buckling”, GOUDEAU P., VILLAIN P., RENAULT P.-O., TAMURA N., CELESTRE R.S., PADMORE H., 6th European Conference on Residual Stresses ECRS6, Coïmbra, Portugal, 10-13 Juillet 2002.

18]               “Elastic constant measurement in supported W/Cu multiplayer thin films by x-ray diffraction”, VILLAIN P., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., 6th European Conference on Residual Stresses ECRS6, Coïmbra, Portugal, 10-13 Juillet 2002

19]               « Cartographie à l’échelle du micron des contraintes intra granulaires et des orientations cristallines sur une micro poutre en silicium revêtue d’or par diffraction des rayons X », GOUDEAU P., RIGO S., MASRI T., PETIT J.A., DESMARRES J.-M., TAMURA N., Colloque GFAC, ENSAM de Metz, 9-10 avril 2003.

20]               « Caractérisation des propriétés mécaniques intrinsèques de couches minces de carbone amorphe: évolution in situ en température des contraintes et effets de l’implantation d’azote sur la dureté et le module », CHARVET S., LEJEUNE M., GOUDEAU P., FAURIE D., LE BOURHIS E., GERGAUD P., Réunion Thématique du Gdr « Couches minces de carbone amorphe et nanostructuré », 18-19 Mars 2004, St Etienne et Lyon.

21]               “Application of the white/monochromatic X-ray μ-diffraction technique to the study of texture and triaxial strain at the submicron level”, GOUDEAU P., TAMURA N., SPOLENAK R., PADMORE H.A., ICRS7, Xi’an (Chine), 14-17 Juin 2004.

22]               “X-ray diffraction analysis of the residual stress state in PVD TiN/CrN multilayer coatings deposited on tool steel, and its correlation with wear resistance”, MENDIBIDE C.,  STEYER P., ESNOUF C., GOUDEAU P., THIAUDIÈRE D., GAILHANOU M., FONTAINE J., 9th Conference on Plasma Surface Engineering (PSE), Garmisch (Allemagne), 13-17 Septembre 2004

23]               « Micro scanning X-ray diffraction study of Roman Terra Sigillata ceramics », SCIAU P., GOUDEAU P., TAMURA N., DOORYHEE E., Synchrotron Radiation in Arts and Archaeology – SR2A, Grenoble (France), 9-11 Février 2005.

24]               “Strain mapping on gold thin film buckling and silicon blistering”, GOUDEAU P., TAMURA N., PARRY G., COLIN J., COUPEAU C., CLEYMAND F., PADMORE H., MRS spring meeting, symposium O “Thin Films―Stresses and Mechanical Properties XI”, San Francisco (USA), 28 Mars – 1er Avril 2005.

25]               “Mechanical properties and size effect in nanometric W/Cu multilayers”, VILLAIN P., FAURIE D., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., BADAWI K.-F., MRS spring meeting, symposium O “Thin Films―Stresses and Mechanical Properties XI”, San Francisco (USA), 28 Mars – 1er Avril 2005.

26]               « Micro - diffraction Laue: un nouveau projet de ligne à SOLEIL pour l’identification de phases et la mécanique des matériaux », GOUDEAU P., THOMAS O., Colloque GFAC 2007, Senlis, 27-28 mars 2007.

27]               “Elastic properties of metallic thin films : 2D synchrotron XRD analysis and in situ tensile testing”, GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., GIRAULT B., Denver X-ray conference, Denver, USA, 20/07-3/08 2007.

28]               “Elastic properties of nano-structured thin films: Characterization and modeling”, GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., VILLAIN P., GIRAULT B., CASTELNAU O., CHIRON R., RANDRIAMAZAORO R., THIAUDIÈRE D., Denver X-ray conference, Denver, USA, 20/07-3/08 2007.

29]               “Micro scanning XRF, XANES and XRD studies of the decorated surface of Roman Terra Sigillata ceramics”, MIRGUET C., SCIAU P., GOUDEAU P., METHA A., PIANETTA P., LIU Z., TAMURA N., Denver X-ray conference, Denver, USA, 20/07-3/08 2007.

30]               “Micro scanning XRF, XANES and XRD studies of the decorated surface of Roman Terra Sigillata ceramics”, MIRGUET C., SCIAU P., GOUDEAU P., METHA A., PIANETTA P., LIU Z., TAMURA N., ECM24, Marrakech, Maroc, 22-27 Août 2007.

31]               « Etudes des engobes de céramiques romaines en combinant des techniques de micro-diffraction, micro-fluorescence et micro-absorption X », SCIAU P., LEON Y, GOUDEAU P., METHA A., LIU Z., TAMURA N., Réunion de clôture du GDR « Patrimoine et Soleil », Paris, 29-30 Janvier 2008.

32]               “Development of a biaxial tensile machine at synchrotron standard for in-situ diffraction characterization of thin polycrystalline metallic film mechanical response”,GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., LAMONGIE B., DIOT Y., CASTELNAU O., CHIRON R., RANDRIAMAZAORO R., FAURIE D., THIAUDIERE D., ALVES F., BOUAFFAD A., COQUET J., Atelier du GdR MECANO, Ecole des Mines de Paris, 23-24 avril 2009.

33]               « Effets de structure et de taille sur le comportement mécanique de multicouches W/Cu de périodes nanométriques », GIRAULT B., GEANDIER G., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., RENAULT P.- O., VALAT-VILLAIN P., ALLARD F., DURINCK J., SFP2009 session «Matériau et effet de taille : une convergence de la physique et de l’ingénierie » , Ecole Polytechnique, Palaiseau, 6-10/07/2009

34]               « Effet  de  structure  et  de  taille  sur  les  propriétés mécaniques  de  multicouches  métalliques nanométriques », GIRAULT B., GEANDIER G., RENAULT P.-O., EYIDI D., LE BOURHIS E., ALLARD F., VALAT P., GOUDEAU P., CFM’09, S32: Mécanique Physique Nano-objets & Petites Echelles, Marseille, 24-28/08/2009.

35]               “X-ray diffraction characterization of suspended structures for MEMS applications”, GOUDEAU P., GEANDIER G., TAMURA N., CFM’09, S28 : Micro et nano systèmes, MEMS, Marseille, 24-28/08/2009.

36]               "Mechanical reliability of ZnO thin films used in glass stacking applications CIMTEC » CONCHON F., RENAULT P.O., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., SONDERGARD E., BARTHEL E., GRACHEV S., GOUARDES E., RONDEAU V., GY R., LAZZARI R., JUPILLE J., BRUN N. CIMTEC symposium CG, Montecatini terme, Tuscany, Italy – June 6-11, 2010

37]       “In situ mechanical testing of TiO2 anatase thin films using synchrotron x-ray diffraction”, Goudeau P., Gelfi M., Bontempi E., Geandier G., Thiaudière D., Depero L.E., MRS Fall meeting, Boston, USA 26-30/11/0212.

38]       “Combined analysis of delamination process at the surface of Cr2O3 thermal oxide films”, GOUDEAU P., GUERAIN M., GROSSEAU-POUSSARD J.L., TAMURA N.,  KUNZ M., MICHA J.S., MRS Fall meeting, Boston, USA, 26-30/11/0212.

39]       “Elastic strains in He implanted UO2 polycrystalline sample: micro X-ray Laue diffraction measurements and anisotropic elastic modeling”, GOUDEAU PH., CASTELIER É., PALANCHER H., RICHARD A., MICHA J-S., MRS Fall meeting, Boston, USA 26-30/11/0212.

40]       « Film brittleness revealed at small deformations by biaxial loading at different ratios”, GOUDEAU P., LE BOURHIS E., RENAULT P.O., GUILLOU R., DJAZIRI S., FAURIE D., GEANDIER G., THIAUDIÈRE D., 16th International Conference on Experimental Mechanics - ICEM16, July 7-11 2014 • University of Cambridge, UK.

41]       “Stress analysis at different length scales in thermal oxide films combining Raman spectroscopy and x-ray diffraction”, GUERAIN M., GROSSEAU-POUSSARD J.-L., GOUDEAU P., GEANDIER G., PANICAUD B., TAMURA N., KUNZ M., DEJOIE C., MICHA J.-S., The 43rd International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films – ICMCTF, April 25-29 2016, San Diego, USA.

Communications par affiche

1]          "Diffusion Centrale Anomale des rayons X. Application à des alliages métallurgiques" Ph. Goudeau et A. Naudon "Physique en Herbe", Aussois (France) 1985

2]         "Grazing-Incidence X-ray Scattering Study of the Microstructure of Tungsten-Carbon Films" T. Slimani, Ph. Goudeau, A. Naudon, G. Farges and J. L. Derep Eighth International Conference on Small-Angle Scattering, Leuven (Belgium), August 6-9, 1990

3]          "Etude par diffusion centrale des rayons X de la nanostructure du silicium poreux photoluminescent: influence de l'oxydation anodique" Ph. Goudeau, A. Naudon, A. Halimaoui et G. Bomchil 3èmes Journées de la Matière Condensée (JMC3- SFP), Villeneuve d'Ascq (France), 2-4 Septembre 1992

4]          "Studying structure of metallic superlattices by "symmetric" and "asymmetric" X-ray diffraction" G. Gladyszewski, Ph. Goudeau, K. F. Badawi and A. Naudon MRS spring meeting, Marriott, San Francisco (USA), April 12-16, 1993

5]           "Etude du silicium poreux par diffusion centrale des rayons X" Ph. Goudeau, A. Naudon, V. Vezin, A. Halimaoui et G. Bomchil Colloque utilisateurs du Laboratoire pour l'Utilisation du Rayonnement Electromagnétique (LURE), CNRS, Gif sur Yvette (France), 6-10 Juin 1994

6]          "Influence of microstructure on residual stress in tungsten thin films analyzed by X-ray diffraction" DURAND N., BADAWI K.F., GOUDEAU P.  E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, Council of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

7]         " X-ray diffraction study of the sub-structure modification induced by residual stresses during the deposition process of 304L stainless steel films » GOUDEAU P., BOUBEKER B., EYMERY J.P., BRANGER V. E-MRS Symposium E « Structure and Properties of Metallic thin Films and Multilayers, Council of Europe, Strasbourg 22-26 mai 1995

8]         "Characterization of metallic multilayers by X-ray diffraction : residual stresses and microstructure" BIMBAULT L., BADAWI K.F., GOUDEAU P., BRANGER V., DURAND N. Fourth European Conference on Residual Stresses (ECRS4), Cluny en Bourgogne, 4-6 juin 1996

9]          "A study of interdiffusion phenomena in Fe/CoNbZr multilayers" EYMERY J.P., KRISHNAN R., GOUDEAU P.  39ème Colloque de Métallurgie de l’INSTN, Saclay, 25-27 Juin 1996

10]        « Analyse par diffraction des rayons X de couches d’oxydes de zirconium formées sur les tôles en Zy-4 oxydées dans la vapeur d’eau à 400°C » BECHADE J.L., GOUDEAU P., GAILHANOU M., YVON P. Colloque National sur les contraintes résiduelles dans les procédés d’élaboration des céramiques et les traitements de surface, Limoges, 23-24 septembre 1997.

11]       « Aspect des décollements dus aux contraintes résiduelles dans les films d’acier inoxydable préparés par pulvérisation » EYMERY J.P., GOUDEAU P., DENANOT M.F., BOUBEKER B.  Colloque National sur les contraintes résiduelles dans les procédés d’élaboration des céramiques et les traitements de surface, Limoges, 23-24 septembre 1997.

12]        « Characterization of polycristalline thin films elastic properties using x-ray diffraction and mechanical methods » GOUDEAU P., RENAULT P.O., VILLAIN P., COUPEAU C., PELOSIN V., BOUBEKER B., BADAWI F.Gordon Research Conference « Thin film mechanical behaviour », Plymouth State College – USA, 16-21 Juillet 2000

13]       « X-ray diffraction study of thin film elastic properties in relation with their microstructure » GOUDEAU P., RENAULT P.O., VILLAIN P., BADAWI F. ECM19, Nancy, 25-31 août 2000.

14]        « Cartographie des contraintes résiduelles par diffraction X en micro faisceau : Application à l’étude des décollements spontanés de films minces supportés »GOUDEAU P. JSRC-1, Orléans, 18-20 décembre 2000.

15]        « X-ray diffraction study of thin film elastic properties » GOUDEAU P., RENAULT P.O., VILLAIN P., BADAWI K.F. LURE user’s Meeting, Orsay, 18-19 Janvier 2001.

16]               « Caractérisation par diffraction des rayons X des contraintes résiduelles dans des revêtements diamant sur alliage titane pour applications mécaniques» GOUDEAU P., ANDREAZZA P., DE BARROS M.I., VANDENBULCKE L. GFAC-SF2M, St Nazaire, 26-27 Mars 2001.

17]         “Structural and mechanical properties of stainless steel thin films elaborated by thermal evaporation and ion beam sputtering”  MERAKEB N., GOUDEAU P., EYMERY J.-P., BOUBEKER B., BOUZABATA B . THERMEC’2003, Madrid, 7-11 Juillet 2003

18]        “X-ray microdiffraction in Materials science for in grain strain/stress and texture determination at the micron level” Goudeau P., Tamura N., Padmore .A.,Spolenak R. Lure/Soleil User’s Meeting, Orsay, 4-5 Février 2004 (affiche)

19]       “X-ray diffraction analysis of residual stresses in smooth fined-grain diamond coatings deposited on TA6V alloys for tribological applications” GOUDEAU P., VANDENBULCKE L., MET C., DE BARROS M.I., ANDREAZZA P., THIAUDIERE D., GAILHANOU M.9th Conference on Plasma Surface Engineering (PSE), Garmisch (Allemagne), 13-17 Septembre 2004

20]        “Submicron Scanning x-ray diffraction and its applications to problems in materials and environmental science” Tamura N., Padmore H. A., Goudeau P. , Manceau A. Synchrotron Radiation in Arts and Archaeology – SR2A, Grenoble (France), 9-11 Février 2005.

21]        “A microtensile set up for characterising the mechanical properties of films” Cyziute B., Augulis L., Bonneville J., Goudeau P., Lamongie B., Tamulevicius S., Templier C.  MRS spring meeting, symposium O “Thin Films―Stresses and Mechanical Properties XI”, San Francisco (USA), 28 Mars – 1er Avril 2005.

22]        “Elastic behavior of fibre-textured gold films by combining synchrotron X-ray diffraction and in-situ tensile testing” Faurie D., Renault P.-O., Le Bourhis E., Goudeau P.MRS spring meeting, symposium O “Thin Films―Stresses and Mechanical Properties XI”, San Francisco (USA), 28 Mars – 1er Avril 2005.

23]       “X-ray diffraction characterization of suspended structures for MEMS applications” Goudeau P., Tamura N., Lavelle B., Rigo S., Masri T., Bosseboeuf A., Sarnet T., Petit J.-A., Desmarres J.-M. MRS spring meeting, symposium O “Thin Films―Stresses and Mechanical Properties XI”, San Francisco (USA), 28 Mars – 1er Avril 2005.

24]        “Synchrotron Laue m-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., Thomas O. User’s meeting SOLEIL, L’Orme des Merisiers - St Aubin, 18-19 Janvier 2006.

25]        “Synchrotron Laue m-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., Thomas O. Colloque « Rayons X et Matière » RX2006, Limoges, 20-23 Février 2006.

26]        “CEMS and XRD investigation of Fe1-xCrx (0 < x < 0.70) films grown by ion-beam sputter deposition” EYMERY J.P., AL-KHOURY W., GOUDEAU Ph., FNIDIKI A. Colloque « Rayons X et Matière » RX2006, Limoges, 20-23 Février 2006.

27]       “Synchrotron Laue m-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., O. Thomas Réunion C’nano Nord-Ouest, Nantes, 31 Mars 2006.

28]        “Synchrotron Laue m-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., O. Thomas Colloque SF2M Ouest, Nantes, 13 Avril 2006.

29]         « Déformations élastiques dans des multicouches W/Cu par couplage d’essais de traction à la diffraction des rayons X » Girault B., Villain P., Le Bourhis E., Goudeau P., Renault P.-O. Colloque de l’Association Française de Cristallographie - AFC 2006, Toulouse, 10-13 Juillet 2006.

30]         “Synchrotron Laue m-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., Thomas O. Colloque de l’Association Française de Cristallographie - AFC 2006, Toulouse, 10-13 Juillet 2006.

31]        “Thin film delamination study during in situ compressive testing by Scanning micro X-ray Diffraction” Goudeau P., Renault P.-O., Colin J., Coupeau C., Foucher F., Geandier G., Tamura N. ALS User’s Meeting, Berkeley (USA), 9-10 October 2006.

32]         “Synchrotron Laue m-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., O. Thomas ALS User’s Meeting, Berkeley (USA), 9-10 October 2006.

33]        “Synchrotron Laue m-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., O. Thomas Workshop « Nanomaterials: microstructural and mechanical characterizations, simulations », Poitiers (France), 12-13 Décembre 2006.

34]        “Thin film delamination study during in situ compressive testing by Scanning micro X-ray Diffraction” Goudeau P., Renault P.-O., Colin J., Coupeau C., Foucher F., Geandier G., Tamura N. Workshop « Nanomaterials: microstructural and mechanical characterizations, simulations », Poitiers (France), 12-13 Décembre 2006.

35]        “Synchrotron Laue micro-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., Thomas O. SOLEIL 2nd User's Meeting, Palaiseau, 17-18 janvier 2007.

36]         “Synchrotron Laue micro-diffraction: a new beam line project at SOLEIL for phase identification and mechanics of materials” Goudeau P., Thomas O. ECM24, Marrakech, Maroc, 22-27 Août 2007.

37]        “Thin film delamination study during in situ compressive testing by Scanning micro X-ray Diffraction” Goudeau P., Geandier G., Renault P.-O., Tamura N., Coupeau C., Foucher F. ECM24, Marrakech, Maroc, 22-27 Août 2007.

38]        « Etude par micro diffraction synchrotron de la délamination de films minces induite par un essai de compression in-situ. » Goudeau P., Geandier G., Renault P.-O., Tamura N., Coupeau C., Foucher F. Poster, RX2007, Dijon, 17-20 Décembre 2007.

39]        « Micro-diffraction Laue : un nouveau projet de ligne à SOLEIL pour l’identification de phase et la mécanique des matériaux » Goudeau P., Thomas O. RX2007, Dijon, 17-20 Décembre 2007.

40]        « Caractérisation et modélisation des propriétés élasto-plastiques de films nano-structurés » Geandier G., Le Bourhis E., Renault P. -O., Goudeau P., Girault B., Valat P., Eyidi D., Guérin P., Castelnau O., Chiron R., Randriamazaoro R., Thiaudière D. Atelier GDR Mecano, Marseille, 13-14 Mars 2008

41]        « Etude par micro diffraction synchrotron de la délamination de films minces induite par un essai de compression in situ » Goudeau P., Geandier G., Renault P.-O., Tamura N., Coupeau C., Foucher F. Atelier GDR Mecano, Marseille, 13-14 Mars 2008

42]        « Micro - diffraction Laue: un nouveau projet de ligne à SOLEIL pour l’identification de phase et la mécanique des matériaux » Goudeau P., Thomas O. Atelier GDR Mecano, Marseille, 13-14 Mars 2008

43]         “Durability of coated substrates studied by Scanning micro X-ray diffraction” Goudeau P., Geandier G., Grosseau-Poussard J-L., Dinhut J.-F., Tamura N., Micha J.-S. Affiche, Atelier MicroDiff, ESRF, Grenoble, 24-25 septembre 2009.

44]          “Durability of coated substrates studied by Scanning micro X-ray diffraction” Goudeau P., Geandier G., Grosseau-Poussard J-L., Dinhut J.-F., Tamura N., Micha J.-S. 2nd IRUN Symposium on Nanotechnology, Krakow, Pologne, 8-9 Octobre 2009.

45]         “Durability of coated substrates studied by Scanning micro X-ray diffraction” Goudeau P., Geandier G., Grosseau-Poussard J-L., Dinhut J.-F., Tamura N., Micha J.-S. 2009 ALS user’s meeting, Berkeley, USA, 15-17 Octobre 2009.

46]         « Development of a biaxial tensile machine at synchrotron standard for in-situ diffraction characterization of the mechanical response of thin polycrystalline metallic films” GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., LAMONGIE B., DIOT Y., CASTELNAU O., CHIRON R., RANDRIAMAZAORO R., FAURIE D., THIAUDIÈRE D., ALVES F., BOUAFFAD A., COQUET J., ABIVEN Y.-M. 2009 ALS user’s meeting, Berkeley, USA, 15-17 Octobre 2009.

47]        “Development of a biaxial tensile machine at synchrotron standard for in-situ diffraction characterization of the mechanical response of thin polycrystalline metallic films” GEANDIER G., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., LE BOURHIS E., LAMONGIE B., DIOT Y., CASTELNAU O., CHIRON R., RANDRIAMAZAORO R., FAURIE D., THIAUDIÈRE D., ALVES F., BOUAFFAD A., COQUET J., ABIVEN Y.-M.  YESS nano 2009, Atelier France-USA sur les Nanosciences et Nanotechnologies, Synchrotron SOLEIL, France, 16-18 Novembre 2009

48]          “Durability of coated substrates studied by Scanning micro X-ray diffraction” GOUDEAU P., GEANDIER G., GROSSEAU-POUSSARD J-L., DINHUT J.-F., TAMURA N., MICHA J.-S.YESS nano 2009, Atelier France-USA sur les Nanosciences et Nanotechnologies, Synchrotron SOLEIL, France, 16-18 Novembre 2009.

49] « Comportement élastique-plastique de nano composites en couches minces sous chargement biaxial – étude combinée par DRX et corrélation d’images » DJAZIRI S., RENAULT P-O, HILD F., LE BOURHIS E., GOUDEAU PH., THIAUDIÈRE D., FAURIE D. Journée de la SF2M Ouest, La Rochelle, 29 mars 2011.

50] « Déformations élastiques dans des échantillons polycristallins d’UO2 implantés à l’hélium: mesures par micro diffraction Laue et modélisation de l’anisotropie élastique » CASTELIER E., PALANCHER H., RICHARD A., MICHA J-S., GOUDEAU PH. Colloque Rayons X et Matière 2011, Tours, France, 28 novembre – 1er Décembre 2011.

51] « Déformation bi-axiale contrôlée de films métalliques déposés en couches minces sur substrat polymère – analyse combinée par rayonnement synchrotron x et corrélation d’images » DJAZIRI S., RENAULT P.-O., HILD F., LE BOURHIS E., THIAUDIERE D., FAURIE D., GOUDEAU P. Colloque Rayons X et Matière 2011, Tours, France, 28 novembre – 1er Décembre 2011

52] « Influence of grain orientation on radiation induced strains in UO2 polycrystals”, GOUDEAU P., CASTELIER E., PALANCHER H., RICHARD A., MICHA J.-S., The 12th international workshop on Plasma-Based Ion Implantation and Deposition - PBII&D, Futuroscope, France, July 1-5 2013.

53] “Mechanical behavior of thin metallic films submitted to cyclic deformation”, HE W., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., Journée SF2M Ouest, 2 Avril 2015, Angers, France.

54] « Les essais de traction biaxiale sous chargement continu au service de l’étude des propriétés mécaniques des nano-matériaux », GOUDEAU P., GUILLOU R., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., GODARD P., FAURIE D., MOCUTA C., THIAUDIERE D., GEANDIER G., Colloque rayons X et Matière 2015, 1-4 décembre, Minatec-Grenoble, France.

55] “Study of Bauschinger Effect in Thin Metallic Films Submitted to Cyclic Deformation”, HE W., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., Colloque rayons X et Matière 2015, 1-4 décembre, Minatec-Grenoble, France.

56] « Comportement mécanique de films minces Cu/W nano feuillets sous chargement biaxial cyclique ou monotone : Etude in situ par diffraction synchrotron », POUVREAU N., GUILLOU R., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., GODARD P., MOCUTA C., THIAUDIERE D., Colloque Plasticité 2016, 11-13 Avril, Poitiers

57] “X-ray synchrotron in-situ mechanical study of nanolayered gold thin films under continuous controlled biaxial deformation”, GUILLOU R., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., RENAULT P.-O., GODARD P., FAURIE D., GEANDIER G., MOCUTA C., THIAUDIÈRE D., The 43rd International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films – ICMCTF, April 25-29, San Diego, USA.

58] “Etude des propriétés optiques, physiques et mécaniques de substrats polycristallins de silicium de qualité solaire”, JAGAILLOUX F., GOUDEAU P., PAUMIER F., DUPRE J.-C., VALLE V., PENOT J.-D., CHABLI A., Journée SF2M Ouest « Energie marine : dégradation des matériaux et stockage », 12 Mai 2016, ENSICAEN, Caen.

59] « Etude des propriétés optiques, physiques et mécaniques de substrats polycristallins de silicium de qualité solaire » JAGAILLOUX F., GOUDEAU P., PAUMIER F., DUPRE J.C., VALLE V., PENOT J.-D., CHABLI A., THIAUDIERE D., Colloque Matériaux et Grands Instruments & Matériaux Numériques de la SF2M «Analyse in situ : expérience / modélisation», 15-16 septembre 2016, MINES ParisTech.

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