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1996-2001
34] « Residual stresses and microstructure in tungsten thin films analyzed by X-ray diffraction : Evolution under ion irradiation », DURAND N., BADAWI K.F., GOUDEAU P., JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 80 (7) (1996) 5021-5027.
35] « A transmission electron microscopy study of interfacial reactions in the Fe/GaAs system », RAHMOUNE M., EYMERY J.P., GOUDEAU P., DENANOT M.F., THIN SOLID FILMS 289 (1-2) (1996) 261-266.
36] « Profile analysis of thin film x-ray diffraction peak », BIMBAULT L. , BADAWI K.F., GOUDEAU P., BRANGER V., DURAND N., THIN SOLID FILMS 275 (1996) 40-43.
37] « Study of the mechanical and microstructural state of platinum thin films », BRANGER V., PELOSIN V., BADAWI K.F., GOUDEAU P., THIN SOLID FILMS 275 (1996) 22-24.
38] « Influence of microstructure on residual stress in tungsten thin films analyzed by x-ray diffraction », DURAND N., BADAWI K.F., GOUDEAU P., THIN SOLID FILMS 275 (1996) 168-171.
39] « X-ray diffraction study of the sub-structure modification induced by residual stresses during the deposition process of 304L stainless steel films », GOUDEAU P., BOUBEKER B., EYMERY J.P., BRANGER V., THIN SOLID FILMS 275 (1996) 188-190.
40] « Residual stresses influence on the structural evolution of Cu-Mo solid solutions studied by x-ray diffraction », GOUDEAU P., MIMAULT J., GIRARDEAU T., REKLAOUI K., PROUX O., BRANGER V., THIN SOLID FILMS 275 (1996) 25-28.
41] « Analyse de l'état mécanique et microstructural de films minces supraconducteurs YBaCuO par diffraction des RX », AUZARY S., BADAWI K.F., BIMBAULT L., RABIER J., GABORIAUD R.J., GOUDEAU P., JOURNAL DE PHYSIQUE III 7 (1997) 35-46.
42] « Interprétation cohérente du coefficient de Poisson négatif rapporté dans des multicouches métalliques : rôle du paramètre libre de contraintes », BADAWI K-F., GOUDEAU P., DURAND N., EUR. PHYS. J. A.P. 2 (1998) 1-6.
43] « X-ray determination of residual stresses and phase quantification in ZrO2 oxide layers formed on Zircaloy-4 », BECHADE J.L., GOUDEAU P., GAILHANOU M., YVON P. , HIGH TEMP. MAT. PROCESSES 2 (3) (1998) 359-367
44] « Contraintes résiduelles et décollements dans les films d’acier 304L », BOUBEKER B., EYMERY J.P., GOUDEAU P., DENANOT M.F., REVUE MAROCAINE DU GENIE CIVIL 74 (1998) 2-7
45] « Internal stress analysis in thin metallic films by combining curvature and X-ray diffraction methods », BRANGER V., PELOSIN V., GOUDEAU P., BADAWI K.F, HIGH TEMP. MAT. PROCESSES 2 (3) (1998) 419429
46] « Ion- beam assisted deposition effect on residual stresses in 304L stainless steel films », GOUDEAU P., SERRARI A., BOUBEKER B., EYMERY J.P., HIGH TEMP. MATERIAL PROCESSES 2 (3) (1998) 431-442
47] « Effect of the hydrogen on the intrinsic stress in hydrogenated amorphous carbon films deposited from an electron cyclotron resonance plasma », RACINE B., BENLAHSEN M., ZELLAMA K., GOUDEAU P., ZARRABIAN M., TURBAN G., APPL. PHYS. LETTERS 73 (22) (1998) 3226-3228
48] « Poisson’s ratio measurement in tungsten thin films on substrates combining an X-ray diffractometer with in situ tensile tester », RENAULT P-O., BADAWI K-F., BIMBAULT L., GOUDEAU P., ELKAÏM E., LAURIAT J-P., APPL. PHYS. LETTERS 73 (14) (1998) 1952-1954.
49] « Laser surface modification : structural and tribological studies of AlN coatings », MENEAU C., ANDREAZZA P., ANDREAZZA-VIGNOLLE C., GOUDEAU P., VILLAIN J-P., BOULMER-LEBORGNE C., SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY 100-101 (1998) 12-16.
50] « Etude de l’état de contrainte dans un revêtement biphasé a/g - Utilisation de la technique des rayons X », SERRARI A., GOUDEAU P., CHOUKIR A., BOUBEKER B., REVUE MAROCAINE DU GENIE CIVIL 78 (1998) 55-60
51] « Evolution of magnetic and mechanical properties in stainless steel films implanted with Kr ions », BOUBEKER B., GOUDEAU P., SERRARI A., EYMERY J.P., NUCLEAR IINSTRUMLENTS AND METHODS B 155 (3) (1999) 289-294
52] « Atomic force microscopy of in situ deformed nickel thin films », COUPEAU C., NAUD J.F., CLEYMAND F., GOUDEAU P., GRILHE J., THIN SOLID FILMS 347 (1999) 1-7
53] « Structure and related corrosion behavior in 1M H2SO4 of bcc 304L films prepared by ion beam sputtering », IDIRI M., BOUBEKER B., SABOT R., GOUDEAU P., DINHUT J.F., GROSSEAU-POUSSARD J.L., SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY 122 (1999) 230-234
54] « Atomic force microscopy observations of debonding in 304L stainless steel films », TALEA M., BOUBEKER B., COUPEAU C., CLEYMAND F., GRILHE J., GOUDEAU P., MATERIALS LETTERS 41 (4) (1999) 181-185
55] « Structural analysis of Ti1-xSixNy nanocomposite films prepared by reactive magnetron sputtering », VAZ F., REBOUTA L., ALMEIDA B., GOUDEAU P., PACAUD J., RIVIERE J-P., BESSA e SOUSA J., SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY 120-121 (1999) 166-172
56] « On the Youg modulus of 304L stainless steel thin films », BOUBEKER B., TALEA M., GOUDEAU P., COUPEAU C., GRLIHE J., MATERIALS CHARACTERIZATION 45 (2000) 33-37
57] « Atomic force microscopy analysis of buckling phenomena in metallic thin films on substrates », BRANGER V., COUPEAU C., GOUDEAU P., BOUBEKER B., BADAWI K.F., GRILHE J., JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS 19 (2000) 353-355
58] « An experimental method for measuring the poisson’s ratio in thin films and multilayers using a tensile machine set up on an x-ray goniometer », RENAULT P.O., BADAWI K.F., GOUDEAU P., BIMBAULT L., EUR. PHYS. J AP 10 (2000) 91-96
59] « Characterization of Ti1-xSixNy nanocomposite films », VAZ F., REBOUTA L., GOUDEAU P., PACAUD J., GAREM H., RIVIERE J.-P., CAVALEIRO A., ALVES E., SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY 133-134 (2000) 307-313
60] « A structural and mechanical analysis on PVD-grown (Ti,Al)N/Mo multilayers », TAVARES C.J., REBOUTA L., ALVES E., CAVALEIRO A.,GOUDEAU P.,RIVIERE J.-P., DECLEMY A., THIN SOLID FILMS 377-378 (2000) 425-429
61] “ Corrosion behaviour in 1M H2SO4 of 304L Stainless steel films prepared by ion beam sputtering”, IDIRI M., BOUBEKER B., SABOT R., GOUDEAU P., DINHUT J.-F., GROSSEAU POUSSARD J.-L., LEBSSILI A., Les Annales de Chimie: Sciences des Matériaux 25 (supplt 1) (2000) S333-S336.
62] “ Internal friction and its thermal evolution on 304L stainless steel films ”, IDIRI M., BOUBEKER B., GOUDEAU P., PELOSIN V., M.J. CONDENSED MATTER 3 (2000) 34-36.
63] « Mechanical spectroscopy and structural evolution of CuMo thin films », PELOSIN V., BRANGER V., GOUDEAU P., RIVIERE A., BADAWI F., Journal of Alloys and Compounds 310 (1-2) (2000) 454-456.
64] « Brillouin light scattering investigation of elastic properties of Cu-Mo solid solution thin films », DJEMIA P., GANOT F., MOCH P., BRANGER V.,GOUDEAU P., JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 90 (2) (2001) 756-762.
65] “Characterization of thin film elastic properties using x-ray diffraction and mechanical method: application to polycrystalline stainless steel”, GOUDEAU P., RENAULT P.O., VILLAIN P., COUPEAU C., PELOSIN V., BOUBEKER B., BADAWI K.F., Thin Solid Films 398-399 (2001) 496-500.
66] “Structural transitions in hard Si-based TiN coatings: the effect of bias voltage and temperature”, VAZ F., REBOUTA L., GOUDEAU P., GIRARDEAU T., PACAUD J., RIVIERE J.P., TRAVERSE A., Surface and Coating Technology 146-147 (2001) 274-279.
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