1]              "Scattering of X-rays", A. NAUDON, P. GOUDEAU AND V. VEZIN, Porous Silicon Science and Technology, ed. J.-C. Vial and J. Derrien, les éditions de physique - Springer (1995), 255-275.

2]              « Cartographie des contraintes résiduelles par diffraction X : application à l’étude des décollements spontanés de films minces supportés », VILLAIN P., GOUDEAU P., Actes du Colloque « Etude du comportement des matériaux et des structures » - GAMAC, Edités par Y. Berthaud et col., Avril 2001, p87-94.

3]              « Comportement au rayage et étude structurale de revêtements minces de tungstène déposés par PVD sur polyimide », BENAYOUN S., LIGOT J., VILLAIN P., GOUDEAU P., RENAULT P.O., HANTZPERGUE J.J., Actes des Journées Internationales Francophones de Tribologie 2001, Vol. VII : Tribologie des matériaux organiques, Chapitre IV, SIRPE éditeur, Décembre 2002, p 176-189.

4]               « Détermination des contraintes résiduelles et des constants d’élasticité dans les films minces par diffraction des rayons X », GOUDEAU P., RENAULT P.-O., BADAWI K.F., VILLAIN P., Article invité dans Le Vide: Science, Technique et Applications 301 (3/4) (2001)  541-564. Ouvrage thématique dédié aux propriétés mécaniques des films minces.

5]              « Effets de taille sur l’élasticité du tungstène », VILLAIN P., BEAUCHAMP P., GIRAULT B., BADAWI F., LE BOURHIS E., GOUDEAU P., RENAULT P-O., Recueil des actes du Colloque INSTN « Matériaux, Mécanique, Microstructures » édité par Olivier Hardouin-Duparc et publié par l'Ecole Polytechnique (2007) pp.123-130

6]              « Small scale mechanical properties of polycrystalline materials: in situ diffraction studies » , GIRAULT B., VIDAL V., THILLY L., RENAULT P.-O., GOUDEAU P., LE BOURHIS E., VILLAIN-VALAT P., GEANDIER G., TRANCHANT J., LANDESMAN J.-P., TESSIER P.-Y., ANGLERAUD B., BESLAND M.-P., DJOUADI A., LECOUTURIER F. International Journal of Nanotechnology 5 (6/7/8) (2008) 609–630

7]              « Micromechanical Modelling of the Size-Dependent Elastic Behavior of Multilayer Thin Films: Comparison with in situ data from X-Ray Diffraction”, GEANDIER G., CASTELNAU O., LE BOURHIS E., RENAULT P.-O., GOUDEAU PH., IUTAM Bookseries, Springer, Pyrz, R.; Rauhe, Jens C. (Eds.), 13 (2009) 99-108.

8] « Propriétés mécaniques de films minces Fe-Cr élaborés par pulvérisation ionique», AL KHOURY W., LE BOURHIS E., EYMERY J.-P., GOUDEAU P., dans "Lubrification et tribologie des revêtements minces", Actes des journées internationales francophones de tribologie (JIFT 2007), Presses Polytechniques et Universitaires Romandes,  H. Zaïdi, J.-P. Rivière, J. Frêne Editeurs, ISBN: 978-2-88074-834-0(2009) 10 pages.